二极管浪涌电流测试仪 ST-Surge1500A
用于测试 二极管以及IGBT&MOSFET内置二极管的浪涌电流参数 &﹟160;ITSM / IFSM 电流1500A输出,3000V的反压输出
一、概述
&﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160;二极管浪涌电流测试仪适用于对二极管以及IGBT内部的续流二极管器件进行浪涌电流(ITSM/IFSM)的试验,在电流施加结束后再施加规定的反压,以验证器件承受浪涌电流的能力。试验方法符合国际电工委员会IEC标准及JB/T7026-2013标准。 &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160;本设备浪涌电流及反向电压、电流等均采用采用数字式显示,具有测试范围大、重复性好,操作方便、使用效率高等特点。
二、技术指标
浪涌电流(ITSM / IFSM)测试范围:20A~1500A,连续可调; 浪涌电流(ITSM / IFSM)根据精度要求分为两档:
20A~100A时, 显示分辨率0.1A&﹟160; 精度±5%; 100A~1500A时,显示分辨率1A&﹟160;&﹟160;&﹟160; 精度±5%; 浪涌电流(ITSM / IFSM)波形:近似正弦波; 浪涌电流底宽:8.3ms及10ms两档选择; 测试频率:1~99次(注:可间隔性发射99次,但每次均是1个脉冲信号。间隔时间5s~50s之间自由调节) 反向电压(VRRM)测试范围:200~3000V; 反向电压(VRRM)显示分辨率10V,精度±5%; 反向电压频率:50Hz正弦半波; &﹟160; 三、治具部分
&﹟160;&﹟160;&﹟160; &﹟160;&﹟160;3.1、热板型测试治具 温度范围:室温~150℃ 温控范围:75.0~150.0℃,分辨率0.1℃;精度±1.5℃; 连接方式:基于温控热板的基础上提供2种连接方式。1、线缆螺栓式。2、接插式。
四、原理说明: 半导体器件在工作时,有时要承受较大的冲击电流,器件的用途不同,要求器件能承受浪涌电流的能力也不同,为了检测器件承受浪涌电流的能力,可产生一个大的浪涌电流施加于被测器件上,从而检测被测器件是否能承受大浪涌电流的冲击,二极管浪涌电流测试仪就可以完成此任务。
五、控制系统 数据采集方式:计算机自动采集。 显示方式:计算机显示 计算机控制时,其原理框图如下图所示,主电路原理与手动测试一致,所有的设定及显示均有计算机完成,每次测试电流及施加的反向电压值均有计算机自动采集并记录。
浪涌电流的波形如下图; 五.售后服务
1.免费质保期一年,保修期内除用户人为原因造成的故障外,我公司提供免费维护; 2.我公司在接到用户设备报障信息后,在2小时内对客户做出反应,如需现场处理,省内24小时,省外72小时到位。 3.产品过质保期后,我公司长期提供备品、备件和技术支持服务;产品出现故障需更换配件,我公司只收配件工本费,免收人工费。 4· &﹟160; 二极管浪涌电流测试仪厂家直供。 产品系列
晶体管图示仪 半导体分立器件测试筛选系统 静态参数(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等) 动态参数(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等) 环境老化(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等) 热特性(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等) 可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件
规格: |
0 |
数量: |
99 |
包装: |
日期: |
2019-06-17 |
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